مواد و ساخت پیشرفته

به‌تازگی محققین دانشگاه ملک عبداله، لنزی را طراحی کرده‌اند که قادر است تصاویر کمی فازی و تصاویر میدان روشن میکروسکوپ معمولی را به‌صورت همزمان در یک اندازه‌گیری، ثبت نماید.
این گروه که تحت راهنمایی پروفسور ولفگانگ هایدریچ فعالیت می‌کنند، لنز میکروسکوپی را طراحی کرده‌اند که شامل یک حسگر جبهه موج بوده و اطلاعات جبهه موج یا فاز را به اطلاعات شدتی تبدیل می‌نماید.
تصاویر کمی فازی جزئیات بیشتری نسبت به تصاویر میکروسکوپ معمولی در اختیار می‌گذارد. این تکنیک تصاویر میدان روشن معمولی و فازی را در یک اندازه‌گیری ثبت می‌نماید.
تصاویر کانتراست فازی توسط الگوریتم کامپیوتری ساخته می‌شوند که برای بازیابی کمی فاز، توسعه داده شده است. برای تصویربرداری ابتدا یک تست کالیبراسیون بدون نمونه انجام می‌شود و سپس تصویر نمونه ثبت می‌شود.
به گفته این محققین مزیت اصلی این سیستم عدم نیاز به قطعات خاص مانند چشمه‌های نوری و زمان تصویربرداری کوتاه است. سیستم از نور سفید برای روشنایی استفاده می‌کند و سرعت تصویربرداری در حد ویدئو ریت می‌باشد و برای اولین بار است که تمامی این مزایا به‌صورت یکجا جمع شده است. این گروه تصمیم دارد سنسور جبهه موج توسعه داده شده را به میکروسکوپ‌های تجاری اضافه نماید و کارایی آنها را بهبود بخشند. با استفاده از این سیستم توانایی روئیت نمونه‌هایی که نور بسیار کمی را جذب می‌کنند مهیا می‌شود.
منبع:
https://www.photonics.com/Articles/Microscopy_Innovation_Allows_for_Simultaneous/a65323